VLSI Test Principles and Architectures

VLSI Test Principles and Architectures

...

Nettpris
769,-
Veil. pris 1 099,- Spar 330,-
E-Bok
E-bøkene legges i din ARK-leseapp. Bøkene kan også lastes ned fra Din side.
×
Logg deg inn for å gjennomføre dette kjøpet med ett klikk!

Etter at kjøpet er gjennomført vil boken være tilgjengelig på «din side» og i ARK-appen
Skriv anmeldelse
Format E-Bok
Kopisperre Teknisk DRM
Filformat PDF
Utgivelsesår 2006
Forlag Elsevier Science
Språk Engelsk
ISBN 9780080474793
Se flere detaljer  

Om VLSI Test Principles and Architectures

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.* Most up-to-date coverage of design for testability. * Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. * Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures.* Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available.* Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.


Kundevurderinger

ARKs anbefalinger

Det finnes ingen vurderinger av dette produktet. Skriv anmeldelse
Det finnes ingen vurderinger av dette produktet.

Anbefalt


Tips en venn