Hopp til hovedinnholdet
Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix

Redigert av Alistair B Forbes, Markus Baer, Leslie Pendrill, Kastsuhiro Shirono, Jean-remy Filtz, Franco Pavese, 2012.Del av serien Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences.


InnbundetEngelsk
2 029,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 15 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2012
Første salgsdato
27.03.2012
Forlag
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Språk
Engelsk
Antall sider
470
Serie
Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences
ISBN
9789814397940
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
2 029,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.