Hopp til hovedinnholdet
Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims, AES Und XPS

Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims, AES Und XPS

Av Hans Joachim Dudek, Maria F Ebel, Manfred Grasserbauer, 1986.

InnbundetTysk
1 629,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 14 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
1986
Første salgsdato
01.01.1986
Forlag
De Gruyter
Språk
Tysk
Antall sider
312
Høyde
244 mm
Bredde
170 mm
Lengde
19 mm
Vekt
707 g
ISBN
9783112702666
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 629,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.