Hopp til hovedinnholdet
Handbook Of Instrumentation And Techniques For Semiconductor Nanostructure Characterization (In 2 Volumes)

Handbook Of Instrumentation And Techniques For Semiconductor Nanostructure Characterization (In 2 Volumes)

Redigert av Frances M Ross, Richard A Haight, James B Hannon, 2011.Del av serien Materials and Energy.


InnbundetEngelsk
5 659,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 9 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2011
Første salgsdato
01.12.2011
Forlag
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Språk
Engelsk
Antall sider
680
Høyde
235 mm
Bredde
158 mm
Lengde
44 mm
Vekt
1362 g
Serie
Materials and Energy
ISBN
9789814322805
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
5 659,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.