Hopp til hovedinnholdet
Particle Characterization in Technology

Particle Characterization in Technology

Av J.K. Beddow, 2017.

Volume II: Morphological Analysis

The first section of volume II deals with both theory and methods of morphological analysis, it then discusses data analysis, and finally, the applications.

Innbundet
Pocket — ikke tilgjengelig
E-bok — ikke tilgjengelig
Lydbok — ikke tilgjengelig

Språk: Engelsk

2 749,-
Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent
Midlertidig utsolgtBestillingsvare. Forventes sendt om ca 10 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2017
Første salgsdato
29.11.2017
Forlag
CRC Press
Språk
Engelsk
Antall sider
288
Høyde
254 mm
Bredde
178 mm
Vekt
690 g
ISBN
9781315896267
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
2 749,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.