Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI CircuitsM. Bushnell, Vishwani AgrawalInnbundetEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvNettlager
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process VariationsJose Garcia Gervacio, Victor ChampacPocketEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvNettlager
Verification by Error ModelingKatarzyna Radecka, Zeljko ZilicPocketEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvNettlager
Soft Errors in Modern Electronic SystemsMichael NicolaidisInnbundetEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvNettlager
