Pensum -10%Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI CircuitsM. Bushnell, Vishwani AgrawalInnbundetEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvUtsolgt
Pensum -10%Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process VariationsJose Garcia Gervacio, Victor ChampacPocketEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvUtsolgt
Pensum -10%Verification by Error ModelingKatarzyna Radecka, Zeljko ZilicPocketEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvUtsolgt
Pensum -10%Soft Errors in Modern Electronic SystemsMichael NicolaidisInnbundetEngelskDel av serien Frontiers in Electronic TestingLegg i handlekurvUtsolgt
