Hopp til hovedinnholdet
Advances in X-Ray Analysis

Advances in X-Ray Analysis

Redigert av Charles S. Barrett, Ting C. Huang, Ron Jenkins, R. Ryon, Paul K. Predecki, John V. Gilfrich, G. J. McCarthy, Deane K. Smith, 1992.

InnbundetEngelsk
999,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 17 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
1992
Første salgsdato
01.10.1992
Forlag
Kluwer Academic/Plenum Publishers
Språk
Engelsk
Antall sider
1334
Høyde
230 mm
Vekt
2760 g
ISBN
9780306442490
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
999,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.

Advances in X-Ray Analysis | ARK.no