Hopp til hovedinnholdet
Advances in X-Ray Analysis

Advances in X-Ray Analysis

Redigert av C.S. Barrett, Ting C. Huang, Ron Jenkins, R. Ryon, Paul K. Predecki, John V. Gilfrich, G.J. McCarthy, Deane K. Smith, 2012.

PocketEngelsk
649,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 17 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2012
Første salgsdato
21.11.2012
Forlag
Springer-Verlag New York Inc.
Språk
Engelsk
Antall sider
641
Høyde
244 mm
Bredde
170 mm
ISBN
9781461365327
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
649,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.

Advances in X-Ray Analysis - Volume 35B | ARK.no | ARK.no