Hopp til hovedinnholdet
Characterization, Testing, Measurement, and Metrology

Characterization, Testing, Measurement, and Metrology

Redigert av Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim, 2020.Del av serien Manufacturing Design and Technology.


Innbundet
Pocket
E-bok
Lydbok

Språk: Engelsk

2 669,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 9 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2020
Første salgsdato
26.10.2020
Forlag
CRC Press
Språk
Engelsk
Antall sider
192
Høyde
161 mm
Bredde
240 mm
Lengde
18 mm
Vekt
450 g
Serie
Manufacturing Design and Technology
ISBN
9780367275150
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
2 669,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.