Hopp til hovedinnholdet
Lifetime Spectroscopy

Lifetime Spectroscopy


A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

InnbundetEngelsk
Butikkpris: 3 349,-
3 338,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 17 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2005
Første salgsdato
23.06.2005
Forlag
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Språk
Engelsk
Antall sider
492
Høyde
166 mm
Bredde
241 mm
Lengde
37 mm
Vekt
950 g
Serie
Springer Series in Materials Science
ISBN
9783540253037
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
3 338,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.