Hopp til hovedinnholdet
Neutron and X-ray Reflectometry

Neutron and X-ray Reflectometry

Av Saibal ) Basu, Surendra ) Singh, 2022.Del av serien IOP ebooks.

Emerging phenomena at heterostructure interfaces

This book introduces the techniques of neutronand x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using thetechniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.

InnbundetEngelsk
1 669,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 9 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2022
Første salgsdato
27.12.2022
Forlag
Institute of Physics Publishing
Språk
Engelsk
Antall sider
182
Høyde
254 mm
Bredde
178 mm
Lengde
16 mm
Serie
IOP ebooks
ISBN
9780750346931
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 669,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.