Hopp til hovedinnholdet
Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces

Refined Ray Tracing inside Single- and Double-Curvatured Concave Surfaces


PocketEngelsk
649,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 17 dager

Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2015
Første salgsdato
09.10.2015
Forlag
Springer Verlag, Singapore
Språk
Engelsk
Antall sider
61
Høyde
235 mm
Bredde
155 mm
Serie
SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
ISBN
9789812878076
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Din vurdering

Logg inn for å se eller gi din vurdering.

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
649,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.