Hopp til hovedinnholdet
Test Driven Development for Embedded C

Test Driven Development for Embedded C

Av James W. Grenning, 2011.

PocketEngelsk
399,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer jeg kjøpsvilkårene.

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

På nettlager. Bestilles fra England. Leveres normalt innen 5-8 virkedager.

Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2011
Første salgsdato
14.07.2011
Forlag
The Pragmatic Programmers
Språk
Engelsk
Antall sider
250
Høyde
228 mm
Bredde
191 mm
Lengde
19 mm
Vekt
662 g
ISBN
9781934356623
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
399,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.

Test Driven Development for Embedded C | James W. Grenning | ARK.no