Hopp til hovedinnholdet
X-Ray Diffraction for Materials Research

X-Ray Diffraction for Materials Research

Av Myeongkyu Lee, 2016.


From Fundamentals to Applications

InnbundetEngelsk
1 669,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 10 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2016
Første salgsdato
11.02.2016
Forlag
Apple Academic Press Inc.
Språk
Engelsk
Antall sider
302
Høyde
229 mm
Bredde
152 mm
Vekt
720 g
ISBN
9781771882989
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 669,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.