Hopp til hovedinnholdet
X-Ray Diffraction for Materials Research

X-Ray Diffraction for Materials Research

Av Myeongkyu Lee, 2016.


From Fundamentals to Applications

InnbundetEngelsk
1 669,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 9 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2016
Første salgsdato
11.02.2016
Forlag
Apple Academic Press Inc.
Språk
Engelsk
Antall sider
302
Høyde
229 mm
Bredde
152 mm
Vekt
720 g
ISBN
9781771882989
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 669,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.