Hopp til hovedinnholdet
VLSI Design and Test

VLSI Design and Test

Redigert av Ambika Prasad Shah, Sudeb Dasgupta, Jaynarayan Tudu, Anand Darji, 2022.Del av serien Communications in Computer and Information Science.


26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17–19, 2022, Revised Selected Papers

Innbundet — ikke tilgjengelig
Pocket
E-bok — ikke tilgjengelig
Lydbok — ikke tilgjengelig

Språk: Engelsk

Normalpris: 1 249,-
Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent
Midlertidig utsolgtBestillingsvare. Forventes sendt om ca 20 dager
Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2022
Første salgsdato
17.12.2022
Forlag
Springer International Publishing AG
Språk
Engelsk
Antall sider
596
Høyde
235 mm
Bredde
155 mm
Serie
Communications in Computer and Information Science
ISBN
9783031215131
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 124,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.