Hopp til hovedinnholdet
VLSI Design and Test

VLSI Design and Test

Redigert av Anirban Sengupta, Virendra Singh, Sudeb Dasgupta, Santosh Kumar Vishvakarma, Rohit Sharma, 2019.Del av serien Communications in Computer and Information Science.


23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

Innbundet — ikke tilgjengelig
Pocket
E-bok — ikke tilgjengelig
Lydbok — ikke tilgjengelig

Språk: Engelsk

Normalpris: 1 249,-
Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent
Midlertidig utsolgtBestillingsvare. Forventes sendt om ca 20 dager
Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2019
Første salgsdato
18.08.2019
Forlag
Springer Verlag, Singapore
Språk
Engelsk
Antall sider
775
Høyde
234 mm
Bredde
159 mm
Lengde
45 mm
Vekt
1212 g
Serie
Communications in Computer and Information Science
ISBN
9789813297661
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 124,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.