Hopp til hovedinnholdet
Advanced VLSI Design and Testability Issues

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Redigert av Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra, Suman Lata Tripathi, 2020.


Innbundet
Pocket
E-bok
Lydbok

Språk: Engelsk

1 599,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 10 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2020
Første salgsdato
19.08.2020
Forlag
CRC Press
Språk
Engelsk
Antall sider
360
Høyde
162 mm
Bredde
241 mm
Lengde
27 mm
Vekt
718 g
ISBN
9780367492823
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 599,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.