Hopp til hovedinnholdet
Advanced VLSI Design and Testability Issues

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Redigert av Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra, Suman Lata Tripathi, 2022.


Innbundet
Pocket
E-bok
Lydbok

Språk: Engelsk

649,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 10 dager

Produktinformasjon
Format
Pocket
Utgivelsesår
2022
Første salgsdato
15.04.2022
Forlag
CRC Press
Språk
Engelsk
Antall sider
360
Høyde
234 mm
Bredde
154 mm
Lengde
35 mm
Vekt
570 g
ISBN
9780367538361
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
649,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.