Hopp til hovedinnholdet
Advances in x-Ray Analysis

Advances in x-Ray Analysis

Av Washington, DC, USASachs/Freeman Associates/NRL, Yorktown Heights, NY, USAIBM Research Center (red.), San Jose, CA, USAIBM Almaden Research Center (red.), Newton Square, Pennsylvania, USAInternational Centre for Diffraction Data (red.), C.C. Goldsmith (red.), 1994.

InnbundetEngelsk
999,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 17 dager

Oppdag mer

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
1994
Første salgsdato
30.09.1994
Forlag
Kluwer Academic / Plenum Publishers
Språk
Engelsk
Antall sider
778
Høyde
184 mm
Bredde
264 mm
Lengde
47 mm
Vekt
1592 g
ISBN
9780306449017
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
999,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.

Advances in x-Ray Analysis | Washington, DC, USASachs/Freeman Associat