Hopp til hovedinnholdet
Spatial Point Patterns

Methodology and Applications with R

InnbundetEngelsk
1 469,-

Ikke tilgjengelig for Klikk&Hent

Midlertidig tomt på lager

Bestillingsvare. Forventes sendt om ca 7 dager

Produktinformasjon
Format
Innbundet
Utgivelsesår
2015
Første salgsdato
24.11.2015
Forlag
Chapman & Hall/CRC
Språk
Engelsk
Antall sider
810
Høyde
188 mm
Bredde
262 mm
Lengde
52 mm
Vekt
1722 g
Serie
Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
ISBN
9781482210200
Kundevurderinger

0

0 vurderinger

0%
0%
0%
0%
0%

Kundevurderingene er skrevet av verifiserte kjøpere. Det betyr at produktet som vurderes må være kjøpt hos ARK og registrert på brukers profil. For å registrere kjøp gjort i butikk, må man være ARK-venn.

Mer om kundevurderinger i ARK
1 469,-

Ved å fullføre kjøpet aksepterer du kjøpsvilkårene.